更新時(shí)間:2024-05-10
ORTEC 在20 世紀(jì)60 年代早期推出了第一款用于帶電粒子譜測(cè)量的硅面壘型探測(cè)器。從那時(shí)起,ORTEC 不斷擴(kuò)展其產(chǎn)品系列,現(xiàn)有十多種不同的型號(hào)可供選擇。無(wú)論您的需求是標(biāo)準(zhǔn)的α能譜測(cè)量,還是更具挑戰(zhàn)性的研究需求,ORTEC 硅帶電粒子輻射探測(cè)器都能為您的應(yīng)用提供合適的解決方案。
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,制藥 |
ORTEC(原子與核物理技術(shù)公司)在20世紀(jì)60年代早期推出了第一款用于帶電粒子譜測(cè)量的硅面壘型探測(cè)器。自那時(shí)起,ORTEC不斷擴(kuò)展其產(chǎn)品系列,現(xiàn)有十多種不同的型號(hào)可供選擇。無(wú)論您的需求是標(biāo)準(zhǔn)的α能譜測(cè)量,還是更具挑戰(zhàn)性的研究需求,ORTEC都能為您的應(yīng)用提供合適的探測(cè)器解決方案。ORTEC的硅面壘型探測(cè)器是一種高性能、高分辨率的探測(cè)器,特別適用于粒子能譜測(cè)量和輻射分析。它采用硅材料構(gòu)建,具有優(yōu)異的能量分辨率和輻射靈敏度。它可以有效地區(qū)分不同能量的粒子,并提供精確的能譜測(cè)量結(jié)果。ORTEC的產(chǎn)品系列涵蓋了各種規(guī)格和配置,以滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域的需求。無(wú)論是實(shí)驗(yàn)室中的常規(guī)分析,還是更復(fù)雜的研究項(xiàng)目,ORTEC的探測(cè)器都提供高質(zhì)量的數(shù)據(jù)和可靠的性能。ORTEC的探測(cè)器不僅具有高靈敏度和精確度,還具備穩(wěn)定性和耐用性。其設(shè)計(jì)和制造過(guò)程嚴(yán)格遵循質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn),以確保產(chǎn)品的可靠性和長(zhǎng)壽命。